-
-
[EM02] Transmission Electron Microscope (300 kV)
[EM02]투과전자현미경(300 kV)
- NTIS등록번호
- NFEC-2011-12-151495
- 모델명
- Tecnai G2 F30 S-Twin
- 제작사
- FEI
- 구축일자
- 2011-11-03
- 담당부서
- 중앙기기연구소
- 담당자(정/부)
-
조용륜
없음
없음김수현
없음
없음
장비활용 참고 사항
- 해당기기의 최소 예약시간은 60분 이며, 최대 예약시간은 300분 입니다.
- 최소 예약시간 이후부터 30분 단위로 추가 예약이 가능합니다.
- 현재시간 기준 2일후 부터 예약 가능합니다.
장비예약 안내
※ 공지사항
1) TEM 예약 후 반드시 연구원의 승인/반려 확인바랍니다. (조용륜 박사, yrjo@gm.gist.ac.kr)
2) TEM grid 위에 샘플링이 완료되지 않은 경우, 분석이 불가능하오니 반드시 샘플링해오시기 바랍니다.
3) 가속전압은 300 kV에 안정화 되어 있습니다.
가속전압 변경이 필요하면 담당자와 사전에 협의하여야 하며, alignment 시간과 요금이 추가로 소요됩니다.
4) 점심 시간: 12:00~13:00
※ Notice
1) Please make sure to confirm the approval/return of the researcher after making a TEM reservation. (Yong-ryun Jo, PhD, yrjo@gm.gist.ac.kr)
2) If the sample is not pre-loaded onto a TEM grid, the analysis cannot be performed. Please ensure that the sample is properly prepared in advance.
3) The accelerating voltage is stabilized at 300 kV.
If a change in accelerating voltage is required, please consult with the TEM manager in advance. Additional alignment time and fees will be charged.
4) Lunch time: 12:00~13:00
※ 일정 공지사항
1/12, 22, 26 휴가
1/14~16 출장 및 분석법 개발
1/23 공동연구 분석
- Acceleratin voltage range : 50 ~ 300 kV
- Point resolution : 0.2 nm better
- Infmaion limit : 0.14 nm better
- Option : EDS(EDAX)
- Max. Scanning Area(XY) : 0.4 um×0.4 um
- Max. Measureing Range(Z) : 2.5 um
- Max. Sample Shape : ≤15 mm(diameter), ≤5 mm(thick)
- XY Stage movement : 70 mm×70 mm manual translation
- Bright Field Image B/F(명시야상)
- Dark Field Image D/F(암시야상)
- Diffraction Pattern(회절도형)
- Convergent beam electron diffraction CBED(수렴성 회절도형)
- STEM Mode
- EDS 장착 (Resolution:136 eV) 원자번호5(B) - 92(U) 까지 분석
- HADDF / On-axis BF/DF