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    • 공초점 레이저 주사 현미경
    • [BI03] CLSM

      공초점 레이저 주사 현미경

      Confocal Laser Scanning Microscope

      담당자
      오영수
      모델명
      FV3000RS
      위치
      GAIA(C11) 312-3호
    • 고분해능 이중 구면수차보정 투과전자현미경
    • [EM01] Cs-TEM

      고분해능 이중 구면수차보정 투과전자현미경

      High Resolution Double Cs-Corrected Transmission Electron Microscope

      담당자
      조용륜
      모델명
      JEM-ARM300F2
      위치
      GAIA(C11) 110호
    • 환경 주사전자현미경
    • [EM07] E-SEM

      환경 주사전자현미경

      Environmental Scanning Electron Microscope

      담당자
      선혜인
      모델명
      Apreo 2 S LoVac
      위치
      GAIA(C11) 104호
    • 엑스선 광전자 분광기 시스템
    • [SP13] XPS

      엑스선 광전자 분광기 시스템

      X-ray Photoelectron Spectroscopy System

      담당자
      이체신
      모델명
      NEXSA G2
      위치
      GAIA(C11) 115호
    • 300kV 고분해능 초저온 투과전자현미경
    • [EM08] Cryo-EM

      300kV 고분해능 초저온 투과전자현미경

      300kV high-resolution cryo transmission electron microscope

      담당자
      김환
      모델명
      KRIOS G4
      위치
      GAIA(C11) 112호
    • 사중극자 오비트랩 질량분석기
    • [MS05] Q-Orbitrap MS

      사중극자 오비트랩 질량분석기

      Quadrupole Orbitrap Mass Spectrometer

      담당자
      김규리
      모델명
      Orbitrap Exploris 120
      위치
      GAIA(C11) 418호
    • 투과전자현미경(200 kV)
    • [EM03] TEM-200 kV

      투과전자현미경(200 kV)

      Transmission Electron Microscope(200 kV)

      담당자
      조용륜
      모델명
      Talos F200X G2
      위치
      GAIA(C11) 101호

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